Atomerő-mikroszkóp
-
atomerő afm mikroszkóp
Márka: NANBEI
Modell: AFM
Az Atomic Force Microscope (AFM), egy analitikai műszer, amellyel szilárd anyagok felületi szerkezetét lehet tanulmányozni, beleértve a szigetelőket is.Egy anyag felületi szerkezetét és tulajdonságait vizsgálja a vizsgálandó minta felülete és egy mikroerőre érzékeny elem közötti rendkívül gyenge interatomikus kölcsönhatás kimutatásával.
