atomerő afm mikroszkóp
Az Atomic Force Microscope (AFM), egy analitikai műszer, amellyel szilárd anyagok felületi szerkezetét lehet tanulmányozni, beleértve a szigetelőket is.Egy anyag felületi szerkezetét és tulajdonságait vizsgálja a vizsgálandó minta felülete és egy mikroerőre érzékeny elem közötti rendkívül gyenge interatomikus kölcsönhatás kimutatásával.Lesz egy pár gyenge erő rendkívül érzékeny mikrokonzol vége fix, a másik vége a kis hegynek közel a mintához, majd kölcsönhatásba lép vele, az erő hatására a mikrokonzol deformációja vagy mozgási állapota megváltozik.A minta letapogatásakor a szenzor segítségével ezeket a változásokat észlelhetjük, megkaphatjuk az erőinformáció eloszlását, így megkaphatjuk a nanofelbontású információk felületi morfológiáját és a felületi érdesség információit.
★ Az integrált letapogatási szonda és a mintadarab javította az interferencia elleni képességet.
★ A precíziós lézer és szonda pozicionáló eszköz egyszerűvé és kényelmessé teszi a szonda cseréjét és a pont beállítását.
★ A mintavevő szonda közelítésével a tű merőleges lehet a minta beolvasására.
★ Automatikus impulzusmotoros meghajtó vezérlő mintavevő szonda függőlegesen közeledik, a szkennelési terület pontos pozicionálása érdekében.
★ A minta szkennelési területe szabadon mozgatható a nagy pontosságú minta mobileszköz tervezésével.
★ Az optikai pozicionálással rendelkező CCD megfigyelőrendszer valós idejű megfigyelést és a szonda minta beolvasási területének pozicionálását teszi lehetővé.
★ A modularizációs elektronikus vezérlőrendszer kialakítása megkönnyítette az áramkör karbantartását és folyamatos fejlesztését.
★ Több szkennelési mód vezérlő áramkör integrációja, együttműködik a szoftverrendszerrel.
★ Rugós felfüggesztés, amely egyszerű és praktikus fokozott interferencia-ellenes képességgel rendelkezik.
| Munkamód | FM-leágazás, opcionális érintkező, súrlódás, fázis, mágneses vagy elektrosztatikus |
| Méret | Φ≤90mm,H≤20 mm |
| Szkennelési tartomány | 20 mm XY irányban,2 mm Z irányban. |
| Szkennelési felbontás | 0,2 nm XY irányban,0,05 nm Z irányban |
| A minta mozgási tartománya | ±6,5 mm |
| A motor impulzusszélessége közeledik | 10±2ms |
| Képmintavételi pont | 256×256,512×512 |
| Optikai nagyítás | 4X |
| Optikai felbontás | 2,5 mm |
| Letapogatási sebesség | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Szkennelési szög | 0°~360° |
| Szkennelés vezérlése | 18 bites D/A XY irányban,16 bites D/A Z irányban |
| Adatmintavétel | 14 bites A/D,dupla, 16 bites A/D többcsatornás szinkron mintavételezés |
| Visszacsatolás | DSP digitális visszacsatolás |
| Visszacsatolási mintavételi gyakoriság | 64,0 KHz |
| Számítógép interfész | USB2.0 |
| Működési környezet | Windows98/2000/XP/7/8 |